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            透射電子顯微鏡TEM專用主動減震臺

            日本電子JEOL透射電子顯微鏡TEM主動減震臺,Hitachi日立透射電鏡TEM主動減震臺

            Zeiss蔡司透射電子顯微鏡TEM主動減震臺,FEI透射電子顯微鏡TEM主動減震臺

            Tescan泰思肯透射電鏡TEM主動減震臺,Phenom飛納透射電鏡TEM主動減震臺


            名稱:透射電子顯微鏡TEM專用主動減震臺
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            透射電子顯微鏡TEM專用主動減震臺

            KNS ArisMD主動減震臺


            簡介:專為透射電子顯微鏡TEM設計的主動減震臺,由多個ArisMD主動減震模塊構成,獨立模塊,分布式控制。


            用途:用于消除或降低地表附近震動源產生的震動,從而消除或減少由于地表震動(包括附近建筑和設備所產生的震動)傳導入透射電子顯微鏡TEM而引起的震動干擾,保證透射電子顯微鏡TEM的運行環境和工作狀態。


            技術規格:

            主動減震頻率:0.5~100Hz

            主動減震自由度: 6個自由度

            震動響應時間:<=0.1Sec

            減震性能:8dB gain on 1Hz (60%~70% @ 1Hz); 20dB gain on 2Hz(>=90% @ 2Hz)

            主動減震模塊尺寸:230mmX270mmX75mm

            承載重量:由主動減震模塊數量決定


            主要優勢:

            高性能,低成本

            結構緊湊,安裝簡易,可直接集成到透射電鏡TEM底部框架

            安裝成本低,安裝時間短(3~5h),安裝后無需再調校透射電子顯微鏡TEM

            獨有的實時性能檢查工具、實時性能調整工具

            獨有的遠程服務工具


            Hitachi日立電鏡主動隔振臺.jpgZeiss蔡司電鏡主動隔振臺.pngJEOL日子電子電鏡主動減震臺.jpg
            FEI TEM透射電子顯微鏡主動隔振臺.jpgJEOL TEM日本電子透射電子顯微鏡主動減震臺.jpgJEOL日本電子透射電子顯微鏡TEM主動防震臺.jpg




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